X射線衍射譜圖論文
關(guān)鍵詞：科技期刊；科技論文；X射線衍射譜圖；衍射強(qiáng)度；衍射角；標(biāo)注；標(biāo)目；量符號
X射線衍射（X-ray diffraction，XRD）分析常用于對晶體的物相分析、晶體結(jié)構(gòu)與點陣常數(shù)的精確測定、宏觀殘余應(yīng)力和微觀應(yīng)力的測定、晶粒尺寸的測定以及多晶織構(gòu)測量和單晶定向等。由于具有采樣少、對樣品的非破壞性、對結(jié)構(gòu)和缺陷的靈敏性、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點，已廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、材料學(xué)、地質(zhì)學(xué)、礦學(xué)等領(lǐng)域[1]。X射線衍射儀配有自動化和智能化的衍射圖處理分析軟件的計算機(jī)系統(tǒng)，可直接輸出XRD譜圖，但因各儀器所采用的軟件不盡相同，因此其XRD譜圖（衍射強(qiáng)度與入射角的關(guān)系曲線）的坐標(biāo)標(biāo)注的量符號和單位均是不正確或不規(guī)范的，而論文作者通常只關(guān)注譜圖中的數(shù)值，忽略其坐標(biāo)的標(biāo)目與標(biāo)值的規(guī)范性，而編輯或由于沒有專業(yè)知識或疏忽，譜圖分析中常出現(xiàn)譜圖坐標(biāo)標(biāo)注不規(guī)范的現(xiàn)象。筆者查閱了中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所圖書館館藏的近兩年國內(nèi)外出版的幾十種學(xué)術(shù)期刊，并從中國知網(wǎng)上下載了涉及XRD譜圖的文章近百篇，對XRD譜圖中存在的問題進(jìn)行了歸納，并用文獻(xiàn)中出現(xiàn)的幾類錯誤XRD譜圖實例進(jìn)行了闡述，以期引起編輯同仁的重視，主動擴(kuò)寬專業(yè)知識的'學(xué)習(xí)和技術(shù)交流，提高科技期刊編輯出版質(zhì)量。
一、XRD譜圖標(biāo)目中的量符號和單位
二、來稿及文獻(xiàn)中XRD譜圖存在的問題
隨機(jī)抽取筆者所在單位的圖書館內(nèi)的國內(nèi)外核心學(xué)術(shù)期刊，并從中國知網(wǎng)上下載了近期出版的涉及XRD譜圖的文章近百篇，XRD譜圖的橫坐標(biāo)標(biāo)目基本都是規(guī)范標(biāo)注，個別不規(guī)范，縱坐標(biāo)問題比較多，主要表現(xiàn)為：標(biāo)目中量符號使用不規(guī)范、單位標(biāo)注不當(dāng)、標(biāo)目與標(biāo)值不對應(yīng)等。筆者將近年編輯部來稿中和統(tǒng)計的文獻(xiàn)中存在的XRD譜圖錯誤進(jìn)行了歸納總結(jié)，主要問題如下。
圖3（a）在標(biāo)注單位時將“cps”視為衍射強(qiáng)度單位，不正確，應(yīng)改為“s-1”；圖3（b）衍射強(qiáng)度的單位用“counts”（計數(shù)）表示，也不規(guī)范，應(yīng)改為“s-1”。圖3（c）相對衍射強(qiáng)度的量綱為1，單位為1，故將“cps”視為相對衍射強(qiáng)度單位，不正確。此外圖3（c）的橫坐標(biāo)標(biāo)注也不規(guī)范，正確的標(biāo)注應(yīng)是在原來的基礎(chǔ)上將“衍射角”文字刪除即可。
3.概念不清，標(biāo)注不嚴(yán)謹(jǐn)。圖4中“強(qiáng)度”和圖2（d）的“cps”既不是量符號也不是單位，屬于概念不清，其標(biāo)目應(yīng)為“I/s-1”。圖3（c）量符號用“相對強(qiáng)度”表示，而單位卻用“cps”，量名稱（符號）與單位不對應(yīng)，屬于概念不清。圖4（b）標(biāo)目用中英文同時表達(dá)，不規(guī)范，其正確的標(biāo)目為“I/s-1”。
三、結(jié)語
隨著各種分析、測量儀器的自動化和智能化程度的不斷提高，各種測量結(jié)果可直接由分析儀器輸出得到，若作者對得到的結(jié)果疏于檢查、缺乏對測試儀器的基本原理及相關(guān)軟件分析的深入了解，而編輯有可能因?qū)I(yè)背景不夠，且缺乏和作者的有效溝通，使得稿件中譜圖坐標(biāo)的標(biāo)注存在不規(guī)范、不正確等問題。科技期刊的編輯要提高自主學(xué)習(xí)的積極性，擴(kuò)寬專業(yè)知識，以提高科技期刊編輯出版質(zhì)量。
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責(zé)任編輯、校對：艾 嵐
Key words： science and technology journals， article of science and technology， X-ray diffraction （XRD） spectrum， diffraction intensity， diffraction angle， diagram； heading， quantity symbol
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